落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪

服务详情页
查看大图

  • 产品名称：四探针薄膜电阻测试仪器

  • 产品型号：FTDZS-I
  • 产品厂商：北京冠测
  • 产品价格：0
  • 折扣价格：0
  • 产品文档：
你添加了1件商品 查看购物车
简单介绍：
该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
详情介绍：

测量半导电电阻率时： 电阻率10-4--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm

                      测量其他（落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ

二、 金额电流电压表： 1．  测量范围 2 mV、20 mV、200 mV、2V 2．  量测粗差  2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字) 3．  表明4 1/2 个数字表明0—19999含有旋光性和超负荷自动式式表明，小数点、政府部门自动式式表明。 三、 恒流源： 1．  直流电压输出电压：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA． 2.    工作电流确定误差：±(0.5%读数+2字)




大标题：
方式：
去手机通讯录：
结合手机：
Email：
有限公司种类：
连续位置：
 
 
注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
沟通点话：010-57223836    联通点话：13581986395  工厂地此：武汉市昌平区百善镇王庄产业园
Email：1770844735@qq.com

易展提供技术支持   

落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪 落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪 落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪 落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪 落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪 落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪 落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪 落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪 落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪 落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪